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        紅外成像儀和紫外成像儀的區(qū)別?

        更新時(shí)間:2023-08-02   點(diǎn)擊次數(shù):1400次

        紅外熱像儀和紫外成像儀的區(qū)別

        紅外熱像儀是對溫度進(jìn)行的一種監(jiān)測。鏡頭捕獲來自任何物體的紅外能量,并通過數(shù)字處理可視化溫度狀態(tài)。由于各種物體在產(chǎn)生熱量的同時(shí)發(fā)射紅外光,因此通過圖像處理紅外能量,可以可視化溫差。這種可視化的紅外圖像稱為紅外熱成像。


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        紫外成像儀是檢測紫外輻射,電暈放電是一種局部化的放電現(xiàn)象, 當(dāng)帶電體的局部電壓應(yīng)力超過臨界值時(shí),會使空氣游離而產(chǎn)生電暈放電現(xiàn)象。特別是高壓電力設(shè)備,其常因設(shè)計(jì)、制造、安裝及維護(hù)工作不良產(chǎn)生電暈、閃絡(luò)或電弧。在放電過程中,空氣中的電子不斷獲得和釋放能量,而當(dāng)電子釋放能量(即放電),便會放出紫外線。

        紅外熱像儀(IR):檢測光譜范圍在8-14微米,檢測來自電氣故障引起的熱輻射,電流炙熱性型的缺陷。例如:電阻型發(fā)熱缺陷,壓接接觸不好,內(nèi)部缺陷,破損等。

        紫外成像儀(UV):檢測光譜方位在240-280nm,檢測電壓強(qiáng)度異常引起的紫外輻射,電暈放電型缺陷。例如:污穢、破損、松弛、jian端、安裝不當(dāng)、缺失、零值低值等。



        目前,可用于診斷目的的放電過程的各種方法中,光學(xué)方法的靈敏度、分辨率和抗干擾能力最好。即采用高靈敏度的紫外線輻射接受器,記錄電暈和表面放電過程中輻射的紫外線,再加以處理、分析達(dá)到評價(jià)設(shè)備狀況的目的。電暈放電過程引起微小的熱量,通常紅外檢測不能發(fā)現(xiàn)。紅外檢測通常是在高電阻處產(chǎn)生熱點(diǎn)。紫外成像儀可以看到的現(xiàn)象往往紅外成像儀不能看到,而紅外成像儀可以看到的現(xiàn)象往往紫外成像儀不能看到。因此 UV 檢測和紅外成像是一種互補(bǔ)性而非沖突性技術(shù)。


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